Descrizione
La serie TH2851 è un analizzatore di impedenza di precisione con frequenze di test da 10 Hz a 130 MHz, un'accuratezza di base dello 0,08%, tecnologia a ponte di autobilanciamento a quattro poli e segnali AC da 5 mV-2 V e bias DC fino a ±40 V/±100 mA.Offre tre modalità di misurazione (punto, elenco e scansione grafica), una funzione di elenco multiparametrico a 1601 punti e una visualizzazione delle curve a quattro canali con 16 layout a schermo diviso.
Grazie alla velocità di test fino a 5 ms, all'elevata stabilità e alla compatibilità SCPI (ad esempio Keysight E4990A/E4980A, HP4284A), è possibile caratterizzare con precisione un'ampia gamma di componenti passivi e semiconduttori.
Potenti funzioni di ordinamento e strumenti di analisi grafica supportano il test automatizzato dei componenti e il controllo qualità in laboratorio e in produzione.
Caratteristiche
- Frequenza di test: 10 Hz-130 MHz
- Alta precisione: tecnologia a ponte di bilanciamento automatico, configurazione di test a coppia di quattro poli
- Elevata stabilità e coerenza
- Alta velocità: massima velocità di test fino a 5 ms
- Alta risoluzione: touchscreen capacitivo da 10,1 pollici, risoluzione 1280 x 800
- Tre metodi di test: test per punti, scansione di elenchi e scansione di grafici
- funzione di scansione a elenco multiparametrico a 1601 punti
- Misurazione a quattro parametri
- funzione di scansione grafica a 4 canali: ogni canale può visualizzare 4 curve, 16 diverse modalità di visualizzazione a schermo diviso per canali e curve
- Modalità di visualizzazione per canali e curve
- Potente ordinamento: ordinamento a 10 livelli in modalità LCR
- Modalità di scansione grafica: ogni curva viene ordinata individualmente
- Elevata compatibilità: supporta il set di comandi SCPI, compatibile con KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A
Applicazioni
- Componenti passivi
Stima dei parametri di impedenza e analisi delle prestazioni di condensatori, induttori, nuclei magnetici, resistenze, componenti piezoelettrici, trasformatori, componenti di chip e componenti di rete - Componenti a semiconduttore
Test e analisi dei parametri parassiti dei circuiti integrati di driver LED, proprietà C-VDC dei varattori
Analisi dei parametri parassiti di transistor o circuiti integrati - Altri componenti
Valutazione dell'impedenza di schede a circuito stampato, relè, interruttori, cavi, batterie - Materiali dielettrici
Valutazione della costante dielettrica e dell'angolo di perdita di plastiche, ceramiche e altri materiali - Materiali magnetici
Valutazione della permeabilità magnetica e dell'angolo di perdita di ferriti, corpi amorfi e altri materiali magnetici - Materiali semiconduttori
Costante dielettrica, conducibilità elettrica e proprietà C-V dei materiali semiconduttori - Celle a cristalli liquidi
Costante dielettrica, costante di elasticità e proprietà C-V delle celle a cristalli liquidi
Specifiche
| Modello | ![]() TH2851-015 | ![]() TH2851-030 | ![]() TH2851-050 | ![]() TH2851-080 | ![]() TH2851-130 |
|---|---|---|---|---|---|
| Frequenza di prova | 10Hz-15MHz | 10Hz-30MHz | 10Hz-50MHz | 10Hz-80MHz | 10Hz-130MHz |
| Precisione di base | 0.08% | 0.08% | 0.08% | 0.08% | 0.08% |
| Tensione del segnale CA | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms |
| Corrente | da 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms |
| Tensione di Bias DC | da 0 V a ± 40 V | da 0 V a ± 40 V | da 0 V a ± 40 V | da 0 V a ± 40 V | da 0 V a ± 40 V |
| Corrente | da 0 mA a ± 100 mA | da 0 mA a ± 100 mA | da 0 mA a ± 100 mA | da 0 mA a ± 100 mA | da 0 mA a ± 100 mA |










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